介質(zhì)損耗因數(shù)介電常數(shù)測試儀安全注意事項(xiàng)

4.1 使用前務(wù)必詳閱此說明書，并遵照指示步驟，依次操作。

4.2 請勿使用非原廠提供之附件，以免發(fā)生危險(xiǎn)。

4.3 進(jìn)行測試時(shí)，本儀器測量端高壓輸出端上有直流高壓輸出，嚴(yán)禁人體接觸 ，以免觸電。

4.4 為避免測試棒本身絕緣泄漏造成誤差，接儀器測量端輸入的測試棒應(yīng)盡可 能懸空，不與外界物體相碰。

4.5 當(dāng)被測物絕緣電阻值高，且測量出現(xiàn)指針不穩(wěn)現(xiàn)象時(shí)，可將儀器測量線屏 蔽端夾子接上。 例如：對電纜測纜芯與纜殼的絕緣時(shí)，除將被測物兩 端分 別接于輸入端與高壓 端，再將電纜殼 ，芯之間的內(nèi)層絕緣物接儀器 “G”，以消 除因 表面漏電而 引起的測量誤差。也可用加屏蔽盒的方法， 即將被測物置于金屬屏蔽盒內(nèi)，接上測量線。

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置：

2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點(diǎn)： 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨(dú)立信號   源輸出口，所以本機(jī)又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz～120MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線性電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。

絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。

同樣，由測微圓筒線性電容器的電容量讀數(shù)變化，通過公式計(jì)算得到介電常數(shù)。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀電感器：

按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。

例如：在1MHz測試頻率時(shí)，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時(shí)，要配0.1μH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀使用條件

①環(huán)境溫度： 0～40℃

②相對溫度：≤70%

③供電電流：交流 220V±10%50Hz

2.3 儀器可連續(xù)工作 8 小時(shí)

2.4 消耗功率：約 10W

2.5 外形尺寸：長寬深 355mm×320mm×145mm

2.6 重量：約 6kg(主機(jī))

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀使用方法

1. 被測樣品的準(zhǔn)備

被測樣品要求為園形，直徑25.4～27mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1～5mm之間，如太薄或太厚則測試精度就會下降，樣品要盡可能平直。

下面推薦一種能提高測試精確性的方法：準(zhǔn)備二片厚0.05mm的園形錫膜，直徑和平板電容器極片*，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘著作用，又能排除接觸面之間殘余空氣，把錫膜再粘在平板電容器兩個(gè)極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳，然后放上被測樣品。

2. 測試順序

先要詳細(xì)了解配用儀器的使用方法，操作時(shí)，要避免人體感應(yīng)的影響。

1. 把配用的儀器主調(diào)諧電容置于zui小電容量，微調(diào)電容置于－3pF。
2. 把本夾具測試裝置插到儀器測試回路的“電容”兩個(gè)端子上，即插入到儀器上方接線銅柱的右邊兩個(gè)圓柱內(nèi)。

1. 配上相適應(yīng)的高Q值電感線圈，選擇電感沒有特別的方法，只有試或憑經(jīng)驗(yàn)來選擇合適的那個(gè)，一般選擇使高頻儀器顯示Q值zui大的電感zui為合適。

注：以上步驟是為了使高頻儀器工作起來（儀器是LC諧振工作原理，所以要選擇合適的電感才能使儀器諧振）

1. 調(diào)節(jié)平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為D_O。
2. 再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調(diào)節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測微桿，以免夾得過緊或過松），這時(shí)能讀取新的刻度值，記為D₁，這時(shí)樣品厚度D₂= D₁－D₀。

注：以上d和e兩步是測出被測樣片的厚度，方便后面計(jì)算介電常數(shù)時(shí)用。

1. 把園筒電容器置于7mm處（該值不是的，我們一般在測的時(shí)候放到7mm處就可以測了，不過有的時(shí)候在做到h步0驟時(shí)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)完刻度了Q值還沒有達(dá)到一半，這時(shí)就要適當(dāng)?shù)陌?mm刻度調(diào)整到9mm或更大了）。
2. 改變配合儀器頻率，使之諧振，讀得Q值。（如果測試材料樣片有“要求的測試頻率”，那么就先把頻率定位到該頻率，然后再調(diào)節(jié)儀器的主調(diào)電容，使儀器諧振（即儀器的Q值顯示為zui大）；如果不知道在頻率下測試的話，我們一般把頻率放在1MHz下來調(diào)試，然后再調(diào)節(jié)主調(diào)電容使儀器工作）。
3. 先順時(shí)針方向，后逆時(shí)針方向，調(diào)節(jié)園筒電容器，讀取當(dāng)儀器指示Q值為原值的一半時(shí)測微桿上二個(gè)刻度值，取這二個(gè)值之差，記為M₁。（先記下園筒電容在7mm時(shí)儀器諧振時(shí)的zui大Q值，即d步驟測得的Q值；然后調(diào)節(jié)園筒電容器，看儀器的Q值顯示為原來的一半時(shí)，讀取園筒電容器上邊的刻度為多少，要順時(shí)針和逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)兩次取兩個(gè)刻度值；如果園筒電容器順時(shí)針轉(zhuǎn)到0刻度時(shí)Q值還沒有到一半，那么就要返回到第f步驟把園筒電容器置于9mm處或更大，重新操作）。
4. 再調(diào)節(jié)園筒電容器，使儀器再次諧振（即把園筒電容器調(diào)回到7mm處）。
5. 取出平板電容器中的樣品，這時(shí)儀器又失諧，調(diào)節(jié)平

板電容器，使再諧振，讀取測微桿上的讀值D₃，其變化值為

D₄= D₃－D₀。

1. 和h款操作一樣，得到新的二個(gè)值之差，記為M₂。

3.  計(jì)算測試結(jié)果

被測樣品的介電常數(shù)：

Σ＝D₂ / D₄

被測樣品的損耗角正切值：

     tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ 15.5                     

式中：K為園筒電容器線性變化率，一般為0.33。

4.  其他應(yīng)用使用方法

使用本測試裝置和儀器配用，對絕緣材料以及其他高阻性能的薄材，列如：優(yōu)質(zhì)紙張、優(yōu)質(zhì)木材、粉壓片料等，進(jìn)行相對測量，其測試方法就非常簡便、實(shí)用，采取被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品相比較方法，就能靈敏地區(qū)別二者之間的輕微差別，例如含水量、配用原料變動等等。

測試時(shí)先把標(biāo)準(zhǔn)樣品放入平板電容器，調(diào)節(jié)儀器頻率，諧振后讀得Q值，再換上被測樣品，調(diào)節(jié)園筒電位器，再諧振，看Q值變化，如Q值變化很小，說明標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測樣品高頻損耗值*，反之說明二者性能有區(qū)別，如園筒電容器調(diào)節(jié)不能再諧振，通過調(diào)節(jié)儀器頻率才能諧振，且頻率變化較大，說明被測樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的配用原材料相差較大。